БАНОВ МИХАИЛ ДЖАМБЕКОВИЧ
Изобретатель БАНОВ МИХАИЛ ДЖАМБЕКОВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство испытания изделий на собственных частотах Устройство испытания изделий на собственных частотах](https://img.patentdb.ru/i/200x200/30b7a45fa84fd2356a329421bbdc06e9.jpg)
Устройство испытания изделий на собственных частотах
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля стадий повреждения материалов изделий при усталостных испытаниях по сигналам акустической эмиссии (АЭ). Целью изобретения является повышение точности контроля стадий повреждения изделия при усталостных испытаниях за счет оценки стадий повреждения одновременно по параметрам сигналов АЭ и по измен...
1499221