СЕРЫХ АЛЕКСАНДР ВАСИЛЬЕВИЧ

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля дефектов на наружных поверхностях деталей с оценкой параметров дефектов по трем координатам. Цель изобретения - увеличение информативности контроля за счет контроля дефектов по глубине, повышение достоверности, производительности контроля за счет увеличения скорости сканирования. Излучающая област...