Жижин Г.Н.
Изобретатель Жижин Г.Н. является автором следующих патентов:
![Дифракционный ик-спектрометр для исследования тонких пленок Дифракционный ик-спектрометр для исследования тонких пленок](/img/empty.gif)
Дифракционный ик-спектрометр для исследования тонких пленок
Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению. Целью изобретения является повышение чувствительности и уменьшение габаритов. Излучение от источника 4, обеспечивающего преобразование объемного излучения в поверхностную электромагнитную волну (ПЭВ), распространяется по поверхности металлизированной пластины 1, коллимируется цилиндрическим зеркалом 2 и направляется на дис...
1514046