PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Жижин Г.Н.

Изобретатель Жижин Г.Н. является автором следующих патентов:

Дифракционный ик-спектрометр для исследования тонких пленок

Дифракционный ик-спектрометр для исследования тонких пленок

 Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению. Целью изобретения является повышение чувствительности и уменьшение габаритов. Излучение от источника 4, обеспечивающего преобразование объемного излучения в поверхностную электромагнитную волну (ПЭВ), распространяется по поверхности металлизированной пластины 1, коллимируется цилиндрическим зеркалом 2 и направляется на дис...

1514046