ФЕКЛИСТОВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ
Изобретатель ФЕКЛИСТОВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:
![Предметный столик растрового электронного микроскопа Предметный столик растрового электронного микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d73bef748880f6347a7dd66061962552.jpg)
Предметный столик растрового электронного микроскопа
Изобретение относится к электровакуумным приборам и может быть использовано для управления положением объектов в растровом электронном микроскопе. Цель изобретения - повышение эффективности - достигается путем исключения вневакуумной части приводов механизмов перемещения объектодержателя и повышения стабильности его перемещения. Предметный столик растрового электронного микроскопа...
1522318![Диафрагма электронного микроскопа Диафрагма электронного микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d6e2d49e3a3ec401c42b4b39b3d1482f.jpg)
Диафрагма электронного микроскопа
Изобретение относится к диафрагмирующим управляемым устройствам электронной микроскопии и может использоваться в качестве исполнительного механизма, работающего автономно в вакууме. Цель изобретения - повышение точности позиции опирования достигается за счет введения пьезокерамического привода и элементов, обеспечивающих азимутальное и продольное перемещение диафрагмы. Диафрагма с...
1615821![Устройство для зондирования микросхем в растровом электронном микроскопе Устройство для зондирования микросхем в растровом электронном микроскопе](https://img.patentdb.ru/i/200x200/36e3a93e630e41ec620c6a8fab9a5f63.jpg)
Устройство для зондирования микросхем в растровом электронном микроскопе
Изобретение относится к устройствам для исследования микроструктуры и топографии твердых тел. Цель изобретения - повышение надежности и упрощение конструкции достигается путем размещения пьезоподъемника в зондовой карте и выполнения его в виде биморфного пьезокерамического кольца, на котором закреплены зондирующие иглы. Устройство содержит столик, над которым расположена зондовая...
1615822![Установка для электронно-лучевой сварки в низком вакууме Установка для электронно-лучевой сварки в низком вакууме](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b3493dbec49e6531e902b1f00f9001c1.jpg)
Установка для электронно-лучевой сварки в низком вакууме
Изобретение относится к электроннолучевой сварке и может быть использовано в машиностроении, приборостроении и других отраслях промышленности, связанных с использованием установок для электроннолучевой сварки в низком вакууме для изготовления крупных сварных изделий. Цель изобретения - повышение качества сварного шва путем исключения возможности распространения вплоть до облучаем...
1618549![Устройство для исследования полупроводниковых пластин в электронном микроскопе Устройство для исследования полупроводниковых пластин в электронном микроскопе](https://img.patentdb.ru/i/200x200/934919c7fa384ed30aaf02a204369cf5.jpg)
Устройство для исследования полупроводниковых пластин в электронном микроскопе
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для локального количественного контроля и анализа параметров сверхбольших интегральных схем при их изгртовлении„ Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение надежности о Устройство содержит зондовую карту 5, в которой установлено кольцо 6 с зондирующими иглами 7„ Подъемник выполнен в виде кольцевог...
1619356![Устройство для контактирования интегральных схем в растровом электронном микроскопе Устройство для контактирования интегральных схем в растровом электронном микроскопе](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bb58c30f723b415a8162c08d4d94a296.jpg)
Устройство для контактирования интегральных схем в растровом электронном микроскопе
Изобретение относится к устройствам для исследования макроструктуры и топографии твердых тел и может применяться в микроэлектронике для контроля и диагностики многослойных печатных плат, СБИС, в физике твердого тела, металлургии, геологии . Цель изобретения - повышение надежности контактирования путем упрощения привода макроперемещений блока зондов. Устройство для контроля контак...
1626467![Устройство перемещения кристаллов в рентгеновском спектрометре Устройство перемещения кристаллов в рентгеновском спектрометре](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cb0cf7968ab500c993bd776140fce1b3.jpg)
Устройство перемещения кристаллов в рентгеновском спектрометре
Изобретение относится к дифрактометрам рентгеновских излучений, возбуждаемых в образце электронным пучком 2 растрового электронного микроскопа, и может найти применение в механизмах, автономно работающих в вакууме и осуществляющих точную подачу исполнительных органов. Цель изобретения - повышение точности фокусировки кристалла. Устройство содержит револьверную головку 1 с закрепл...
1711050![Приспособление для исследования образцов в электронном микроскопе Приспособление для исследования образцов в электронном микроскопе](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9ac7734627b7fd4a899959cabc296c1a.jpg)
Приспособление для исследования образцов в электронном микроскопе
Изобретение относится к испытательной технике, а именно к средствам исследования образцов материалов под нагрузкой в электронном микроскопе Цель изобретения - упрощение конструкции. Приспособление содержит вакуумируемый корпус 1 с основанием 2, нагружатель из двух соосных С-образных элементов 3 и 4, изготовленных из материалов с термомеханической памятью , и закрепленные на полка...
1718010![Устройство наклона столика растрового электронного микроскопа Устройство наклона столика растрового электронного микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4cbe3423780d6faab0b3c4971e1b8362.jpg)
Устройство наклона столика растрового электронного микроскопа
Изобретение относится к технике электронной микроскопии, в частности к устройствам для наклона столиков объектов в растровых электронных микроскопах. Целью изобретения является повышение точности позиционирования столика за счет исключения влияния упругих деформаций его составных элементов. Для этого в устройстве наклона привод вращения кронштейна , на котором закреплен столик, о...
1751827![Приводное устройство Приводное устройство](https://img.patentdb.ru/i/200x200/431efd79e714c54298a867fd5c69a636.jpg)
Приводное устройство
Изобретение относится к системам тестирования полупроводниковых микросхем в растровых электронных микроскопах и может найти применение в полупроводниковых технологиях, микроэлектронике, литографии и приборостроении при получении информации о физических свойствах 8 8 S 7 поверхностей материалов, например, сверхбольших интегральных схем, Цель изобретения - повышение точности позици...
1774062