ЭДЕЛЬМАН ВАЛЕРИАН САМСОНОВИЧ

  Изобретение относится к туннельной электронной микроскопии и может быть использовано в приборах для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атомов. Целью изобретения является увеличение чувствительности микроскопа и области сканирования за счет снижения влияния вибрационных помех и независимого регулирования управляющих...

  Изобретение относится к электронным приборам, предназначенным для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атома. Цель изобретения - упрощение конструкции сканирующего туннельного микроскопа - достигается путем более простой кинематической схемы перемещений подвижных элементов - стержней узлов позиционирования образца и и...

  Использование: сканирующий туннельный микроскоп относится к электронным приборам для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атома. Сущность изобретения: микроскоп содержит станину, узел позиционирования образца и узел перемещения измерительной иглы, один из которых включает три, а другой один трубчатый пьезодвижитель....