ВАСИЛЕНКО ЮРИЙ ВИТАЛЬЕВИЧ

  Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для исследования доменной структуры и измерения статических магнитных характеристик тонких магнитных пленок. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства за счет уменьшения его габаритов и увеличения диапазона уровня намагничивания образца. Устройство содержит магнитопровод, к...

  Изобретение относится к металлографии, в частности к способам измерения шероховатостей и дефектов поверхности, и может быть использовано в металлургической промышленности для оптического контроля технологического микрорельефа внешней поверхности аморфных лент, являющихся фазовыми объектами полученных быстрой закалкой из расплава и идентификации аморфных, аморфно-кристаллических и...