Нагорская В.П.
Изобретатель Нагорская В.П. является автором следующих патентов:
![Способ оценки относительной патогенности штаммов x-вируса картофеля Способ оценки относительной патогенности штаммов x-вируса картофеля](/img/empty.gif)
Способ оценки относительной патогенности штаммов x-вируса картофеля
Способ оценки относительной патогенности штаммов X-вируса картофеля, включающий заражение растений исследуемыми штаммами, приготовление препарата из листьев растений для электронного микроскопирования, микроскопирование, измерение размера вирионов с последующей оценкой результатов, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности оценки, у вириона измеряют диаметр, оценку результато...
1554392