ЯРЦЕВ МИХАИЛ ПАВЛОВИЧ

  Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при исследованиях характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем. Цель изобретения - повышение точности измерения. Способ предусматривает выполнение следующих операций: пропускание токов и измерение напряжений между исследуемым контактом 1 и тремя дополнительными контактами 2-4. Новым техническим реше...