КРУТИКОВ ЮРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения больших сопротивлений образцов полупроводниковых материалов. Цель изобретения - повышение точности измерения за счет учета тока утечки - достигается тем, что стабилизированный постоянный ток подают сначала через контрольный и образцовый резисторы 2 и 3 соответственно, измеряют на них напряжения,...

  Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения ЭДС от высокоомных датчиков в цепях с большой постоянной времени. Цель изобретения - повышение точности измерений достигается путем подключения к выходу измерительной цепи дополнительного управляемого низкоомного источника электрического тока одновременно с подачей тока через исследуемый образец на время,...

  Использование: электроизмерительная техника, создание измерительных коммутаторов , реле и др. коммутационных устройств , где требуется обеспечить низкий уровень паразитных термоЭДС. Сущность изобретения: согласно предложенному способу подавление термоЭДС, возникающей на контактах коммутационных устройств с магнитоуправляемыми контактами, достигают расположением мэгнитоуправляёмог...