КУРЧАТОВ ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель КУРЧАТОВ ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e24bd95d5d0c47026214eb5ddc3a95ae.jpg)
Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - уменьшение времени и повышение точности измерений за счет формирования более точных оценок измеряемого параметра перед вычислением среднего. Способ заключается в формировании сигнала расстройки, пропорционального положению аэроматической полосы, изменении разности хода интерферирующих лучей в сторону умен...
1575070