ФАЙН МИРА АБРАМОВНА
Изобретатель ФАЙН МИРА АБРАМОВНА является автором следующих патентов:

Устройство для испытаний обмоток на обрыв и наличие короткозамкнутых витков
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для испытаний обмоток на обрыв и наличие короткозамкнутых витков. Цель изобретения - повышение достоверности и расширение функциональных возможностей - достигается за счет осуществления в устройстве ударного возбуждения контролируемой обмотки, обработки полученного сигнала и индикации двух видов деф...
1576876