PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ФАЙН МИРА АБРАМОВНА

Изобретатель ФАЙН МИРА АБРАМОВНА является автором следующих патентов:

Устройство для испытаний обмоток на обрыв и наличие короткозамкнутых витков

Устройство для испытаний обмоток на обрыв и наличие короткозамкнутых витков

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для испытаний обмоток на обрыв и наличие короткозамкнутых витков. Цель изобретения - повышение достоверности и расширение функциональных возможностей - достигается за счет осуществления в устройстве ударного возбуждения контролируемой обмотки, обработки полученного сигнала и индикации двух видов деф...

1576876