ШИШКАРЕВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель ШИШКАРЕВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:
![Контрольный образец для имитации воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов Контрольный образец для имитации воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d779dcdf8bb27954d929d4d215246182.jpg)
Контрольный образец для имитации воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для настройки и градуировки вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями. Повышение точности имитации воздействия дефектов достигается благодаря исключению дополнительных искажений поля вихревых токов под действием переходного сопротивления стыкуемых частей 1,2 контрольного образца. Вихревые ток...
1578625