PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ФАЙФЕР ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ

Изобретатель ФАЙФЕР ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения электрофизических характеристик полупроводников

Способ определения электрофизических характеристик полупроводников

  Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано для анализа полупроводниковых структур на ранних стадиях, техпроцесса. Цель изобретения - обеспечение возможности измерения наведенной фотоЭДС и относительного значения плотности обратного тока P-N-перехода. Подбирают мощность электронного зонда, обеспечивающую насыщение регистрируемого в режиме потен...

1578770

Устройство для контроля дефектности полупроводниковых пластин и структур

Устройство для контроля дефектности полупроводниковых пластин и структур

  Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может быть использовано в метеорологии и навигации. Устройство содержит лазер с блоком управления , приемопередающую оптическую систему , датчик опорного импульса, оптически сопряженный с лазером, счетчик, генератор счетных импульсов, запускающий счетчик, три схемы сравнения кодов, три регистра памяти, фотоприемное уст...

1785054