Вейнгер А.И.

 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения рода и критической температуры сверхпроводящих образцов малых размеров, включений сверхпроводящей фазы. Целью изобретения является повышение достоверности и расширение функциональных возможностей способа за счет определения рода сверхпроводящего материала и исследования образцов малых размеров. На обра...

  Использование: измерение криогенных температур в различных средах. Сущность изобретения в контролируемой среде размещают образец из сверхпроводящего материала На образец воздействуют монотонно изменяющимся магнитным полем, магнитным полем колебательного контура и переменным магнитным полем с амплитудой, более чем на порядок меньшей напряженности монотонно изменяющегося магнитного...