PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ИЛЬИНСКАЯ ОЛЬГА ИГОРЕВНА

Изобретатель ИЛЬИНСКАЯ ОЛЬГА ИГОРЕВНА является автором следующих патентов:

Магнитный способ измерения физико-механических параметров немагнитных покрытий на ферромагнитных основаниях

Магнитный способ измерения физико-механических параметров немагнитных покрытий на ферромагнитных основаниях

  Изобретение относится к технологии машиностроения. Цель - повышение точности способа. После определения усилия P отрыва магнита от поверхности контролируемого изделия на поверхность контролируемого изделия с покрытием вновь помещают магнит и, постепенно увеличивая нагрузку с помощью устройства нагружения, соединенного тягами с силоизмерительным устройством, определяют усилие сдвиг...

1583733

Устройство для измерения физико-механических параметров немагнитных покрытий на ферромагнитных основаниях

Устройство для измерения физико-механических параметров немагнитных покрытий на ферромагнитных основаниях

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для комплексного контроля качества поверхно сгного слоя и прогнозирования износостой 2 кости покрытий. Целью изобретения «вляе ся повышение точности измерения интенсивности изнашивания немагнитных покрытий за счет учета влияния анизотропии поверхностных физико-механических свойств материала. При помещении кор...

1652807

Способ выглаживания деталей

Способ выглаживания деталей

  Использование отделочная и упрочняющая обработка поверхностей деталей. Сущность изобретения: инструмент со сферической рабочей частью наклоняют относительно нормали к поверхности детали в точке контакта с инструментом и сообщают ему перемещение вдоль обрабатываемой поверхности детали и вращательное движение относительно оси инструмента, при этом величину и направление скорости вы...

1752529

Способ определения кристаллографической ориентации изделий из монокристаллов

Способ определения кристаллографической ориентации изделий из монокристаллов

  Использование: для кристаллографической ориентации изделий из монокристаллических материалов. Сущность изобретения: сначала производят измерение шероховатости обработанной поверхности монокристалла по нескольким направлениям и по полученным результатам строят круговуюдиаграмму изменения шероховатости, которую затем преобразуют в круговую диаграмму изменения относительной микротве...

1816814