PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ШЛЯХТЕР ВАДИМ ИЗРАИЛЕВИЧ

Изобретатель ШЛЯХТЕР ВАДИМ ИЗРАИЛЕВИЧ является автором следующих патентов:

Анализатор дефектов к ультразвуковому дефектоскопу

Анализатор дефектов к ультразвуковому дефектоскопу

  Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля материалов и изделий с помощью ультразвуковых сигналов. Целью изобретения является повышение достоверности определения эквивалентной площади дефекта за счет учета коэффициента затухания, амплитуды принятых ультразвуковых эхо-сигналов и глубины залегания дефектов в контролируемом материале. Работа анализатора осуществляется...

1585751