ШМАКОВА ЕЛЕНА ЭДУАРДОВНА

  Изобретение относится к металлографии, в частности к способам измерения шероховатостей и дефектов поверхности, и может быть использовано в металлургической промышленности для оптического контроля технологического микрорельефа поверхности аморфных и микрокристаллических лент. Цель изобретения - повышение информативности и производительности исследования технологического микрорельеф...