ЖУКОВСКИЙ ЭМАНУИЛ ЕВСЕЕВИЧ
Изобретатель ЖУКОВСКИЙ ЭМАНУИЛ ЕВСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Дифракционное устройство для измерения ширины элементов топологического рисунка Дифракционное устройство для измерения ширины элементов топологического рисунка](https://img.patentdb.ru/i/200x200/28afb4266819f85840823827f1c2395a.jpg)
Дифракционное устройство для измерения ширины элементов топологического рисунка
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности за счет компенсации постоянной составляющей дифракционного сигнала и за счет автоматической коррекции положения элемента топологического рисунка, расширение области применения за счет обеспечения возможности измерений при большей степени интеграции топологического рисунка независимо от...
1597543