ШИРШОВ ВЯЧЕСЛАВ ЕВГЕНЬЕВИЧ
Изобретатель ШИРШОВ ВЯЧЕСЛАВ ЕВГЕНЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для оценки качества изделий Устройство для оценки качества изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5c1f404044ac179fbb1e5b7de05f89d6.jpg)
Устройство для оценки качества изделий
Изобретение относится к контрольно-измерительной и вычислительной технике и может быть использовано для многопараметрического сравнения качества изделий. Цель изобретения - повышение достоверности сравнительной оценки качества сложных изделий. Устройство содержит блок 1 синхронизации, блок 2 ввода информации о показателях качества, блок 4 памяти, блок 5 вычисления отклонения показ...
1597883