ЛАПАНИК ВАЛЕРИЙ ИВАНОВИЧ

  Изобретение относится к электронике и может быть использовано в автоматизированных системах контроля качества жидкокристаллических устройств при измерении электрооптических и электрических параметров, в частности вольт-контрастных и вольт-импедансных характеристик жидкокристаллических материалов. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей путем обеспечения одновреме...