PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ШИЛИНА СВЕТЛАНА ЮРЬЕВНА

Изобретатель ШИЛИНА СВЕТЛАНА ЮРЬЕВНА является автором следующих патентов:

Способ контроля упругих характеристик материалов

Способ контроля упругих характеристик материалов

  Изобретение относится к исследованию влияния технологических обработок на свойства материалов. Целью изобретения является повышение точности. Для этого в способе контроля упругих характеристик материалов, по которому возбуждают резонансные колебания консольного образца из исследуемого материала до и после технологического воздействия на исследуемый материал, определяют частоты рез...

1601553