ВАЛИЕВ М.М.
Изобретатель ВАЛИЕВ М.М. является автором следующих патентов:
Температурная установка для прочностных испытаний образцов материалов
Изобретение относится к испытательной технике для теплопрочностных исследований образцов материалов. Целью изобретения является расширение технологических и эксплуатационных возможностей установки. Установка содержит нагружающее устройство 1, отдельно расположенные температурные модули-. 3, механизм 7 перемещения модулей в зону и из зоны нагружения устройства 1. При испытаниях об...
1603962