ЧЕН-БЕН-НАМ
Изобретатель ЧЕН-БЕН-НАМ является автором следующих патентов:
![Способ измерения атмосферной рефракции Способ измерения атмосферной рефракции](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e90e8a7021b86d3010717c6b2308a3cc.jpg)
Способ измерения атмосферной рефракции
Изобретение относится к атмосферной оптике и может быть использовано для опрелеленяя атмосферной. рафрак1В1и. Целью изобрететтия является поп1,гшеиив дальности и надежности нэме-- рений. Способ яаключается в посьетке через исслр.дуем1 й слой атмосферы пучка оптического излучения на два недиффу.-эиьс-с, зеркальных чгги уголковых отряжагеля, размеры которых различны и определяются...
1603985