КРЫШТАЛЬ Р.Г.

  Изобретение касается электроизмерений, а именно исследования магнитных свойств тонких сферритовых V пленок, и может быть применено для измерения параметра затухания, декремента затухания поверхностных магнитостатических вппн и ширины линии ферромагнитного резонанса в тонких ферритовых пленках. Цель изобретения повьппение точности и распв1рение диапазона измерений - достигается (...