PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЧЕН БЕН-НАМ

Изобретатель ЧЕН БЕН-НАМ является автором следующих патентов:

Способ измерения атмосферной рефракции

Способ измерения атмосферной рефракции

  Изобретение относится к атмосферной оптике и предназначено для измерения рефракции в атмосфере на протяженных трассах. С целью повышения точности измерения, особенно на трассах с переменным градиентом диэлектрической проницаемости, измерение производят путем пропускания через атмосферу двух пучков источников оптического излучения, отличающихся друг от друга параметром P<SB POS=...

1615604