PatentDB.ru — поиск по патентным документам

БАБАЯН ГЕВОРК СЕРГЕЕВИЧ

Изобретатель БАБАЯН ГЕВОРК СЕРГЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ температурной компенсации начального уровня сигнала тензорезистора

Способ температурной компенсации начального уровня сигнала тензорезистора

  Изобретение относится к тензометрии и может быть использовано при измерении деформаций и других механических параметров тензорезисторами, работающими в условиях переменных температур. Цель изобретения - снижение стоимости тензорезистора в изготовлении за счет упрощения конструкции и расширения допуска на отклонения электрофизических свойств материалов участков, что достигается ис...

1619010

Способ температурной компенсации начального уровня сигнала тензорезистора

Способ температурной компенсации начального уровня сигнала тензорезистора

  Изобретение от поен г г ъ кчмоМеТрИН И ЧЧдеТ ИГПОПЬЧОГЛНО П тенэомчiрпчеci и ,. ме-тчнЧРСКИХ П П1Ч1Ш, ЧЛбОТЛЮШГ- Щ II РpeMonnif- i гмпер i ryi а . I PJIF. ч оп кТСНИЯ - ГНИ- РНИР . П Л I1 1 ( i 1 ление ге м К)1)рчип nfuin чл гчс , р мшН ЗОПроТРНИР О1НСГП1ГЯ I С iO ti lрич и по/.сг быг1 ис ю в гопзометри юсьих летчиках механических величин, рлГ 0-j ашцлл npii перс пснпчх темперягу...

1627825

Способ измерения толщины окисной пленки жидких металлов

Способ измерения толщины окисной пленки жидких металлов

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, например, при измерении толщины окисных пленок жидкометаллических контактных устройств защиты первой стенки приемника мощных ионных пучков в инжекторах быстрых частиц. Целью изобретения является повышение точности измерений. В расплавленный металл 1, толщина окисной пленки 2 на поверхности которого измеряется...

1670367

Устройство для определения стойкости режущих пластин

Устройство для определения стойкости режущих пластин

  Изобретение относится к технике испытаний стойкости режущих пластин. Целью изобретения является повышение производительности и точности. Режущую плзсшну 10 устанавливают на токовыводящую пластину 3. Облучают эталонную 2 и режущую 10 пластины источником 8 ультрафиолетового излучения, в ходе испытания определяют стойкость режущей пластины 10 по изменяющейся разности потенциалов. 1...

1758509