ШВЕЦЬ СЕРГЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ
Изобретатель ШВЕЦЬ СЕРГЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ контроля толщины материала Способ контроля толщины материала](https://img.patentdb.ru/i/200x200/306f54748320f1a952b1260c14352331.jpg)
Способ контроля толщины материала
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при травлении или формировании слоев полупроводниковых материалов. Цель изобретения - повышение точности контроля полупроводниковых слоев путем исключения интерференционных эффектов. Выполняют светочувствительный слой фотоприемника таким, что длинноволновый скат характеристики его спектральной чувствительност...
1619015