Климов Ю.А.

 Изобретение может использоваться для выявления потенциально ненадежных структур при изготовлении полупроводниковых приборов на основе МДП - структур. Цель изобретения - повышение достоверности испытаний - достигается воздействием на структуры магнитным полем, инициирующем эволюцию примесно-дефектных комплексов в полупроводниках. Способ заключается в измерении при одинаковых условиях инфор...