ВАНЬКОВ ВАДИМ НИКОЛАЕВИЧ

  Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано для измерения и контроля параметров материалов с цилиндрическими магнитными доменами, используемых з запоминающих устройствах . С целью расширения функциональных возможностей измеряют интенсивность линии ферромагнитного резонанса при параллельной ориентации плоскости пленки относительно внешнего квазистатического по...

  Изобретение относится к магнитометрии тонких пленок и может быть использовано для контроля их параметров при использовании в запоминающих устройствах . Цель изобретения - увеличение размеров доступных для контроля пленок. Цель достигается за счет ориентации пленки перпендикулярно внешнему магнитному полю, регистрации и анализа зависимости интенсивности линии поглощения от угла ме...