ФЕКЛИСТОВ ВЛАДИМИР БОРИСОВИЧ

  Изобретение относится к контрольноизмерительной СВЧ-технике и может быть использовано в технологических процессах электронной промышленности при контроле электрофизических параметров цилиндрических образцов (ЦО) из полупроводниковых , диэлектрических материалов или их структур. Цель изобретения - повышение локальности измерений ЦО. Устр-во содержит отрезок 1 прямоугольного волнов...

  Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения толщины тонких прозрачных и полупрозрачных слоев, нанесенных на диффузно-отражающие поверхности , в частности, при контроле толщины защитного слоя печатных плат. Целью изобретения является расширение области применения за счет обеспечения возможности измерения толщины слоев, нанесенных н...