ЛЯШЕВИЧ АНАТОЛИЙ СЕРГЕЕВИЧ
Изобретатель ЛЯШЕВИЧ АНАТОЛИЙ СЕРГЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
Способ регенерации полиэтилентерефталатной основы фототехнических пленок
СОК З СО{ Е1СКИХ с: циллистич! cvих < < C ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К 1ВТОРСКСМУ гВ(/1ДСТЕЛЬСТ 3У 1 с,) !. ,21) 4006581/).г 1 ("2) 1i . 10.88 (46) 07 07,91. Бюл, N. 5 (71) Институт Общ A и неоргат, основу 2 — 3 раза промывают водой и заливают свежей водой. подогретой до 63 С. (adsbygoogle = window.adsbygoogle || []).push({}); В Inep L1BB>or при 310л! н,,ЗатЕМ дОбдanя От 1,8 Г...
1626243Способ регенерации полиэтилентерефталатной основы фототехнических пленок
ИЗО&РРТС ниг касается производства фо гоматериалов в частности регенерации пол птилрнгер фталатнои о ооы фотогрхни ческиv Це ь улу чирние удаления фотог ю п I. указзнчси orficdH пленок Дня этого членку в держирают т при 60- 75 С в течение 10 0 мин с noi леду ол им / ,j6iB 0 8 1 9% ной серной кис и mcTfiientbiM нагревлчием со скоростью 05 1 1 °L/ мин д 85 97 С с ви...
1626244Способ регенерации полиэтилентерефталатной основы фототехнических пленок
Изобретение относится к фотографии, в частности к регенерации полиэтилентерефталатной основы фототехнических пленок с желатиновым адгезионным подслоем. С целью улучшения удаления фотослоев с полиэтилентерефталатной основы пленку предварительно выдерживают в воде при 50-55°С в течение 25-60 мин, затем при 90-95°С в течение 10-25 мин, а после обработки водными раств...
1642439Устройство для определения размеров и концентрации частиц в непрерывно протекающих жидкостях
Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к приборам для измерения размеров микрообъектов, и может быть использовано для измерения размеров и концентраций частиц в жидкостях. Целью изобретения является одновременное повышение чувствительности и точности измерений размеров частиц. Цель изобретения достигается за счет применения в двухканальном измерителе разм...
1670537Прибор для определения размеров частиц
Сущность изобретения: прибор содержит две идентичные оптические схемы, каждая из которых состоит из последовательно расположенных лазера, отклоняющего зеркала , светоделителя, коллиматора, двухлучевого интерферометра, в предметном плече которого установлена телескопическая система с узлом прокачки исследуемой среды, в опорном - телескопическая система с компенсатором , а его выхо...
1800318