СОТНИЧЕНКО ЕВГЕНИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ
Изобретатель СОТНИЧЕНКО ЕВГЕНИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ лазерного масс-спектрометрического анализа
Изобретение относится к лазерной масс-спектрометрии и может быть использовано для многоэлементного анализа вещества. Цель - повышение точности результатов масс-спектрометрических измерений. При этом рассматриваются кинетические процессы новообразования при образовании и разлете лазерно-плазменного сгустка. Изменением диаметра пятна фокусировки , подбирают оптимальное время разлет...
1628106
Способ лазерного масс-спектрометрического анализа и лазерный масс-спектрометр
Изобретение относится к лазерной масс-спектрометрии и может быть использовано для многоэлементного анализа вещества. Целью изобретения является повышение воспроизводимости результатов при одновременном сокращении времени анализа. Способ заключается в измерении выходной мощности излучения лазера, нахождении по зависимости мощности излучения от энергии накачки, при которой значение...
1661870
Способ лазерного масс-спектрометрического анализа
Изобретение относится к лазерной масс-спектрометрии и может быть использовано для многоэлементного анализа вещества . Целью изобретения является повышение информативности анализа. Способ реализуется следующим образом. В исследуемую пробу вводят дополнительный элемент К, образующий с закрытым элементом X комплексные ионы (ХК). Увеличивают время разлета лазерной плазмы путем увелич...
1721663