МИНАЕВА КИМА АНДРЕЕВНА

  Изобретение относится к неразрушающим методам контроля материала оптически прозрачных изделий, в частности монокристаллических слитков, имеющих на своей боковой поверхности по крайней мере две плоскопараллельные плоскости, и может быть использовано для нахождения в протяженных монокристаллических слитках местоположения границ напряженных участков . Цель изобретения - повышение ин...