СТЕЦКО ЮРИЙ ПАВЛОВИЧ

  Изобретение относится к области исследования реальной структуры монокристаллов методом рентгеновской топографии . Цель изобретения - получение неискаженного изображения дефектов кристаллической структуры субмикронных слоев и рельефа поверхности монокристалла. Для осуществления способа необходимо в качестве отражающей выбрать плоскость, составляющую угол разориентации по отношению...