ЯКУНИН ВАДИМ СЕРГЕЕВИЧ

  Изобретение относится к технической физике и может применяться при рентгеноструктурных исследованиях поликристаллических материалов. Цель изобретения состоит в повышении точности определения структурных параметров исследуемых материалов путем получения узких дифракционных линий, что достигается применением узких (5 - 30 мкм) строго параллельных сколлимированных пучков рентгеновски...

  Изобретение относится к технической физике и может применяться при рентгеноструктурных исследованиях поликристаллических материалов. Цель изобретения - повышение точности рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов. Щелевая диафрагма формируется анизотропным травлением через маску пластины монокристаллического кремния и содержит напыленные покрытия из поглощающ...