ФИЛИМОНОВ АРКАДИЙ СЕМЕНОВИЧ
Изобретатель ФИЛИМОНОВ АРКАДИЙ СЕМЕНОВИЧ является автором следующих патентов:
![Паста для пайки и лужения электрорадиоэлементов Паста для пайки и лужения электрорадиоэлементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d562be7c0814b3803275a337b2fa456b.jpg)
Паста для пайки и лужения электрорадиоэлементов
Изобретение относится к пайке, в частности к составам паст для лужения и пайки электрорадиоэлементов, в том числе для лужения контактных площадок микросхем и печатных плат и пайки к ним навесных элементов. Цель изобретения - улучшение качества пайки и увеличение срока хранения пасты без расслаивания. Паста содержит следующие элементы, мас.%: малоновую кислоту 0,55 - 0,75 терпинеол...
1669676![Отрезной абразивный круг Отрезной абразивный круг](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2d4d8d71fea9dd5cf89653517205851a.jpg)
Отрезной абразивный круг
Использование: для резки пластин монокристаллов . Сущность изобретения: абразивный слой 2 на периферийной части корпуса круга симметрично разделен армирующим кольцом 3. Износ этого кольца более быстрый, чем износ абразивного его окружения, в процессе резания создает на фронтальной режущей части круга центральную кольцевую канавку, уменьшающую боковые уводы. 1 з.п. ф-лы, 2 ил....
1738626![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/56b6d609224b2895b9e67bcc3ac50e46.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых пленок. Цель изобретения - повышение точности. Способ состоит в дополнитель ном освещении пленки источником света, спектральная характеристика и мощность которого обеспечивают насыщение ловушек захвата в полупроводниковой пленке, и пров...
1758589![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f2b5782c3cf03d431b11e764f3cc9a42.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Изобретение относится к технической физике, может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых пленок и является усовершенствованием основного изобретения по авт. св. № 1642410. Исследуемую полупроводниковую пленку помещают в кювету из немагнитного непроводящего ток материала, наполненную диэлектрической немагнитной жидкостью , те...
1774283![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/646cccf2fef45ca11c74853c430f0de9.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Использование: в технической физике и измерительной технике. Сущность изобретения: способ состоит в помещении образца в один из элементов высокочастотного (ВЧ) колебательного контура, измерении изменения добротности ВЧ контура, дополнительно параллельно катушке ВЧ колебательного контура подключают измерительный конденсатор , выполненный в виде двух проводящих обкладок, расположен...
1835522