АБОЯН АРСЕН ОГАНЕСОВИЧ

  Изобретение относится к области рентгенографических исследований несовершенств кристаллов, в частности для исследования полей деформаций в кристаллах, вызванных несовершенством их структуры. Целью изобретения является повышение информативности исследований пространственной ориентации и объемного распределения полей деформации в кристаллах, имеющих ось симметрии четвертого порядка....

  Изобретение относится к области рентгеноинтерферометрических исследований несовершенств кристаллов и может быть использовано в целях определения дилатационных искажений в почти совершенных кристаллах, применяемых в экспериментальной технике и производстве полупроводниковых приборов. Цель изобретения - однозначное определение местоположения дилатационных несовершенств и знака дефо...

  Использование: рентгенодифракционные исследования несовершенств кристаллов . Сущность изобретения; на поверхность образца под угол Брэгга направляют рентгеновский пучок. Регистрируют излучение на пленке, расположенной перпендикулярной дифрагированному пучку, Съемку ведут в режиме шагового сканирования. Образец и пленку перемещают в разных направлениях: образец - на ширину падающе...