Шкроб К.Н.
Изобретатель Шкроб К.Н. является автором следующих патентов:

Способ приготовления образцов для контроля структурных геометрических параметров непрозрачных материалов
Способ приготовления образцов для контроля структурных геометрических параметров непрозрачных материалов дифракционным методом заключается в том, что образец поверхности исследуемого материала изготавливают на прозрачной основе. Поверхность исследуемого материала получают методом электрофотографического получения изображения на копировальном устройстве с последующей его фиксацией термичес...
2213343