БЕЗИРГАНЯН СИРАНУШ ЕНОКОВНА

  Изобретение относится к области рентгеноинтерферометрических исследований несовершенств кристаллов и может быть использовано в целях определения дилатационных искажений в почти совершенных кристаллах, применяемых в экспериментальной технике и производстве полупроводниковых приборов. Цель изобретения - однозначное определение местоположения дилатационных несовершенств и знака дефо...