АХРАРОВ СУБХАН КУРБАНОВИЧ

  Изобретение касается исследования веществ радиационными методами путем измерения вторичной эмиссии и может быть использовано при определении качества и надежности кристаллов, полупроводников и сплавов, при разработке научной основы ионной имплантации материалов с целью направленного изменения их физико-химических свойств. Цель изобретения - расширение диапазона определяемых приме...