Уваров Е.И.
Изобретатель Уваров Е.И. является автором следующих патентов:
Способ определения концентрации носителей заряда в вырожденных полупроводниках
Изобретение относится к неразрушающему контролю параметров полупроводников и может быть использовано для определения однородности и качества материалов. Цель - повышение точности и локальности неразрушающего контроля. Образец охлаждают до гелиевых температур. Воздействуют на него изменяющимся постоянным магнитным полем B и одновременно переменным магнитным полем с амплитудой h << B....
1694018