КУНТЫШ ЭРНЕСТ ВЛАДИМИРОВИЧ

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле диэлектрической проницаемости материалов. Целью изобретения является повышение точности измерений и обеспечение измерения диэлектриков , толщиной (3-5X. Способ осуществляется путем возбуждения а границе полупроводниковой пленки - исследуемый материал электрогнигн г волны - поверхностного плазмона...