ЯКОВЛЕВ ИГОРЬ ВИТАЛЬЕВИЧ

  Изобретение может быть использовано для определения технологических характеристик материала и позволяет расширить технологические возможности устройства. Устройство содержит измерительную сферу , приемник отраженного от поверхности материала излучения, источник излучения, В данном устройстве измерительная сфера выполнена из двух полусфер с зазором, дополнительные источник излучен...