СКУПОВА ТАТЬЯНА НИКОЛАЕВА

  Изобретение относится к испытательной технике, в частности к способам определения толщины нарушенного слоя кристалла. Целью изобретения является повышение точности. Поставленная цель достигается за. счет того, что при послойнрм стравливании поверхности слоев кристалла , сопровождающимся внедрением индентора при постоянной нагрузке и времени выдержки под нагрузкой дополнительно вн...