ТКАЧЕНКО ВАЛЕНТИН ФЕДОРОВИЧ

  Изобретение относится к рентгеновским методам анализа монокристаллов и может быть использовано для определения периодов кристаллической решетки и неразрушающего анализа совершенства структуры по глубине как высокосовершенных , так и реальных монокристаллов. Цель изобретения - получение дополнительной информации о наличии градиента периода решетки по глубине приповерхностного слоя...

  Изобретение относится к измерительной технике, в частности к рентгенографическим способам неразрушающего контроля структуры текстурованных материалов и покрытий с градиентом характеристик по глубине, и может быть использовано на предприятиях машиностроительной, приборостроительной и других отраслей промышленности. Целью изобретения является повышение достоверности контроля путем...