АУЭРСВАЛЬД ЭЛЛЕН

  Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа, а именно к способам рентгенографического определения угла отражения для недеформированного межплоскостного расстояния образцов из материалов с кристаллической или частично-кристаллической структурой, на поверхности которых может иметь место плоско-напряженное состояние. Цель изобретения - повышение точности и упрощение...