КЕРТЕЛЬ ГЮНТЕР

  Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа, а именно к способам рентгенографического определения угла отражения для недеформированного межплоскостного расстояния образцов из материалов с кристаллической или частично-кристаллической структурой, на поверхности которых может иметь место плоско-напряженное состояние. Цель изобретения - повышение точности и упрощение...

  Изобретение относится к рентгено- Структурному анализу материалов с кристаллической и частично кристаллической структурой и .может использоваться для определения первой инвариантной величины тензора деформации с целью оценки деформационного состояния образца. Цель изобретения - упрощение реализации и увеличение точности измерения. Для этого под постоянным углом наклона Ч .74&...

  Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу и может применяться для неразрушающего определения напряженного состояния в крупногабаритных конструкциях. Цель изобретения - повышение точности измерения напряжений за счет обеспечения возможности контроля углового положения нормали к поверхности исследуемого объекта в зоне анализа. Для этого устройство для контроля позиционир...

  Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу и может применяться для неразрушающего определения напряженного состояния крупногабаритных конструкций . Цель изобретения - расширение номенклатуры исследуемых изделий и увеличение производительности путем повышения гибкости выбора геометрии измерений. Для этого на кольцевом основании 2 установлено в круговой направляющей повор...

  Изобретение относится к рбласти рентгеноструктурных исследований материалов, а более конкретно - к способам определения напряжений в поверхностных зонах изделий или образцов из кристаллических или частично кристаллических материалов. Цель изобретения - повышение точности при исследовании изделий или образцов с сильно искаженной или крупнозернистой структурой поверхностного слоя и...