ШКЕЛЬ МИХАИЛ АНТОНОВИЧ
Изобретатель ШКЕЛЬ МИХАИЛ АНТОНОВИЧ является автором следующих патентов:
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов
Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле изделий из ферромагнитных материалов на наличие локальных дефектов (пор, шлаковых включений). Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет исключения перемещения ленты относительно объекта контроля в процессе его намагничивания. Способ контроля заключается в следующем. На...
1704058Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Изобретение относится к области магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества односторонних стыковых сварных соединений , выполненных на съемной подкладке, формирующей обратный валик усиления шва, Целью изобретения является повышение точности имитации дефекта в корне шва одностороннего стыкового соединения. Цель достигается за счет более точного учета вл...
1732250