ИНДЕНБОМ МИХАИЛ ВЛАДИМИРОВИЧ

  Изобретение касается магнитных измерений и предназначено для контроля качества сверхпроводящих материалов. Цель - расширение области применения за счет визуализации магнитных полей сверхпроводящих и нормальных фаз в сверхпроводниках второго рода, в том числе высокотемпературных . При реализации способа светом источника 1 через фильтр 2, диафрагму 3 и поляризатор 4 освещают ферром...