ПИЩАЛЬ ЕЛИНА ИОСИФОВНА

  Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для неразрушающего контроля толщин слоев при изготовлении покрытий на оптических деталях . Цель изобретения - повышение точности нанесения пленки. Облучают образец пучком от источника с длиной Я волны, измеряют сдвиг фаз между Р- и S-компонентами отраженного от образца излучения. При этом длину Я волны и угол обл...

  Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для неразрушающего контроля толщин слоев при изготовлении покрытий на оптических деталях . Цель изобретения - повышение точности нанесения пленки за счет точного определения момента прекращения ее нанесения . Пучок излучения с длиной Я волны падает на контролируемый образец (подложку ) под углом р , до и в процес...